Перегляд вихідного коду сторінки Повний перелік тез і матеріалів конференцій В.С. Яковина

'''Повний перелік тез і матеріалів конференцій'''



N.N. Berchenko, O.A. Dobriansky, A.Yu. Nikiforov, V.S. Yakovina, H. Zogg Substrate-induced strain in epitaxial lead chalcogenides studied by the galvanomagnetic effect rotational dependence // XXVI International school on physics of semiconducting compounds Jaszowiec’97, Ustron-Jaszowiec, Poland, 1997, p. 41.

N.N. Berchenko, V.S. Yakovyna, A.Yu. Nikiforov, H. Zogg Strain analysis of epitaxial multivalley semiconductor films using the galvanomagnetic effects rotational dependence // IV International conference on Material science and material properties for infrared optoelectronics, Kyiv, Ukraine, 1998, p. 68.

Y. Nikiforov, V. Yakovyna, N. Berchenko Laser shock waves as a tool of changing the strains in materials // E-MRS Spring meeting, Strasbourg, France, 1999, p. H-8.

N.N. Berchenko, V.S. Yakovyna, Yu.N. Nikiforov, I.S. Virt On control the properties of bulk Hg1-xCdxTe by laser-induced shock waves // Fifth International conference Material science and material properties for infrared optoelectronics, Kyiv, Ukraine, 2000, p. 79.

N.N. Berchenko, V.S. Yakovyna, Yu.N. Nikiforov, I.S. Virt Laser induced shock waves: changing the defect structure of bulk Hg1-xCdxTe // XXIX International school on the physics of semiconducting compounds Jaszowiec 2000, Ustron-Jaszowiec, Poland, 2000, p. 74.

М.М. Берченко, Ю.М. Нікіфоров, В. Яковина Трансформація дефектної підсистеми кристалів КРТ під дією лазерних ударних хвиль // ІІ міжнародний Смакуловий симпозіум Фундаментальні і прикладні проблеми сучасної фізики, Тернопіль, Україна, 2000, с. 131.

N.N. Berchenko, V.S. Yakovyna, Yu.N. Nikiforov, I.S. Virt Influence of laser induced shock waves on electrical and photoelectric properties of bulk Hg1-xCdxTe // International conference on solid state crystals — materials science and applications, Zakopane, Poland, 2000, p. 92.

Яковина В.С. Ударна обробка як метод контролю параметрів монокристалів Hg0.8Cd0.2Te: механічні дослідження // Міжнародна науково-технічна конференція молодих вчених, аспірантів та студентів «Оптоелектронні інформаційно-енергетичні технології», Вінниця, Україна, 2001, с. 130.

Яковина В.С., Берченко М.М., Курило І.В., Нікіфоров Ю.М. Вплив ударнохвильової обробки на стан дефектів у кристалах Hg0.8Cd0.2Te // Міжнародна конференція студентів і молодих науковців з теоретичної та експериментальної фізики ЕВРІКА-2001, Львів, Україна, 2001, с. 210

N.N. Berchenko, V.S. Yakovyna, Y.N. Nikiforov Laser-induced shock waves processing of II-VI solid solutions interface // E-MRS Fall Meeting, Symposium G: Solid Solutions of the II-VI compounds — Growth, Characterization and Applications, Zakopane, Poland, 2002, Abstr. 5.

V.S. Yakovyna, N.N. Berchenko, K.R. Kurbanov, I. Virt, I. Kurilo, and Yu.N. Nikiforov The analysis of possibility to control complex semiconductors properties by shock wave treatment // 6th International Workshop on Expert Evaluation & Control of Compound Semiconductor Materials & Technologies, EXMATEC 2002, Budapest, Hungary, 2002, p. 124.

V. Yakovyna, A. Matkovskii, D. Sugak, I. Solskii, S. Novosad Effects of annealing on calcium tungstate crystals // 5th European Conference on Luminescent Detectors and Transformers of Ionizing Radiation, LumDeTr, Prague, Czech Republic, 2003, p. 206.

N.N. Berchenko, Y.N. Nikiforov, and V.S. Yakovyna Dissipation of macroinhomogeneous inclusions in HgCdTe thin films on CdTe substrates under the influence of laser shock waves // 11th International Conference on II-VI Compounds, Niagara Falls, New York, USA, 2003, p. Tu-5.22.

Яковина В.С., Берченко М.М., Вірт І.С., Курбанов К.Р., Нікіфоров Ю.М. Взаємодія лазерної ударної хвилі з точковими дефектами у вузькощілинних напівпровідниках // ІІ Українська наукова конференція з фізики напівпровідників (за участю зарубіжних науковців) УНКФН-2, Чернівці — Вижниця, Україна, 2004, Т. 2, с. 177.

М.М. Берченко, В.С. Яковина Модифікація властивостей тонких плівок напівпровідників лазерними ударними хвилями // Ювілейна Х Міжнародна конференція Фізика і технологія тонких плівок МКФТТП-Х, Івано-Франківськ, Україна, 2005, Т. 1, с. 30–32.

V. Yakovyna, N. Berchenko Point defects control in II-VI semiconductors by laser driven shock waves // 12th International Conference on II-VI Compounds, Warsaw, Poland, 2005, p. 246.

V. Yakovyna, V. Mikhailik, Ya. Zhydachevskii, I. Solskii, D. Sugak, M. Vakiv Effect of thermo-chemical treatments on the luminescence and scintillation properties of CaWO4 // 6th European Conference on Luminescent Detectors and Transformers of Ionizing Radiation, LumDeTr, Lviv, Ukraine, 2006, p. 263.

N. Berchenko, V. Yakovyna, M. Kuzma Influence of laser shock waves on As implanted HgCdTe // 8th International Workshop on Expert Evaluation & Control of Compound Semiconductor Materials & Technologies, EXMATEC 2006, Cadiz, Spain, 2006, p. 136.
Bilas O., Levus E., Yakovyna V. Self-organising map as a tool of modelling the design parameters of microelectronics devices for ensuring the specified temperature condition // Proceedings of the International Conference on Computer Science and Information Technologies, Lviv, Ukraine, 2006, P. 74–76.

V. Yakovyna, D. Fedasyuk, M. Seniv Software realization and performance testing of DES cryptographic algorithm on the .NET platform // Proceedings of the IXth International Conference The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics CADSM 2007, Lviv—Polyana, Ukraine, 2007, P. 386–388.

V. Yakovyna, D. Fedasyuk, M. Seniv, O. Bilas The performance testing of RSA algorithm software realization // Proceedings of the IXth International Conference The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics CADSM 2007, Lviv—Polyana, Ukraine, 2007, P. 390–392.

V. Yakovyna, S. Saliy, O. Bilas The analysis of neural networks architecture for DES encryption task // Proceedings of the International Conference on Computer Science and Information Technologies CSIT’2007, Lviv, Ukraine, 2007, P. 56–58.
V. Yakovyna, A. Odukha, V. Smirnov Testing random number generators // Proceedings of the 2nd International Conference of Young Scientists Computer Science and Engineering CSE-2007, Lviv, Ukraine, 2007, P. 25–28.

Берченко Н., Яковина В., Никифоров Ю. Модификация электрических свойств HgCdTe лазерными ударными волнами // ХХ Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения, Москва, Россия, 2008, с. 226–227.

Білас О.Є., Салій С.І., Яковина В.С. Автоматизація навантажувального тестування мережевих ресурсів // Матеріали Третьої Міжнародної конференції «Комп’ютерні науки та інформаційні технології» CSIT’2008, Львів, Україна, 2008, с. 100–103.

О. Одуха, В. Яковина Проектування системи захисту розподіленої системи теплового проектування // Матеріали Третьої Міжнародної конференції «Комп’ютерні науки та інформаційні технології» CSIT’2008, Львів, Україна, 2008, с. 339–341.

В. Яковина, Н. Мамроха, М. Сенів Аспектна декомпозиція компонентів захисту розподіленої системи теплового проектування // Збірник матеріалів шостої міжнародної конференції «Інтернет — Освіта — Наука — 2008» ІОН-2008, Вінниця, Україна, Том 2. — Вінниця: УНІВЕРСУМ-Вінниця, 2008, с. 407–410.

Fedasyuk D.V., Seniv M.M., Yakovyna V.S., Mamrokha N.M. Information model of data representation for software reliability estimation framework // Proceedings of the Xth International Conference The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics CADSM 2009, Lviv—Polyana, Ukraine, 2009, P. 287–291.

Д. Федасюк, В. Яковина, М. Сенів, Н. Мамроха Побудова моделі аспекту аутентифікації та авторизації для підсистеми захисту програмних систем // Матеріали 4-ї Міжнародної науково-технічної конференції «Комп’ютерні науки та інформаційні технології» CSIT-2009, Львів, Україна, 2009, с. 198–202.

N. Berchenko, I. Izhnin, V. Yudenkov, M. Pociask, V. Yakovyna Comparison of electrical properties of HgCdTe subsurface layers formed by low energy ion beam milling or anodic oxidation // 13th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis, ECASIA’09, Antalya, Turkey, 2009, p. 183.

В. Яковина Організація тестування у віртуальному навчальному середовищі Львівської політехніки та формування завдань для контрольних заходів // Матеріали науково-практичної конференції «Інноваційні комп’ютерні технології у вищій школі», Львів, Україна, 2010, с. 20–25.

M. Seniv, D. Fedasyuk, Yu. Parfenyuk, V. Yakovyna, Ya. Chabanyuk Architecture of software system for the software reliability evaluation and prediction // Proceedings of the Vth International Scientific and Technical Conference «Computer Science and Information Technologies» CSIT 2010, Lviv, Ukraine, 2010, P. 164–167.

Ільканич В.Ю., Яковина В.С., Ільканич К.І. Аналіз використання комунікаційної системи ONIF для створення відео-лекцій у ВНС ЛП // Матеріали 2-ї науково-практичної конференції «Інноваційні комп’ютерні технології у вищій школі», Львів, Україна, 2010, с. 68–73.

Seniv M.M., Yakovyna V.S., Parfenyuk Y.I., Lobutska O.I., Noha Y.M. Dataware and software of client-server system for software reliability indexes evaluation // Proceedings of the XIth International Conference The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics CADSM 2011, Lviv—Polyana, Ukraine, 2011, P. 324–326.

М. Берченко, Ю. Нікіфоров, В. Яковина Laser-induced shock waves processing of II-VI small gap semiconductors // Матеріали всеукраїнської науково-технічної конференції з міжнародною участю «Лазерні технології. Лазери та їх застосування», Трускавець, Україна, 2011, с. 47–48.

V. Yakovyna, O. Synytska, T. Kremen, V. Smirnov On the possibility of software reliability prediction using RBF neural network // Proceedings of the VIth International Scientific and Technical Conference «Computer Science and Information Technologies» CSIT 2011, Lviv, Ukraine, 2011, P. 39–42.

V. Yakovyna, O. Nytrebych Review of architecture-based software reliability models // Proceedings of the VIth International Scientific and Technical Conference «Computer Science and Information Technologies» CSIT 2011, Lviv, Ukraine, 2011, P. 106–109.

Т. Кремень, В. Яковина, О. Синицька Використання нейронної мережі Елмана для прогнозування надійності програмного забезпечення // Матеріали V Міжнародної конференції молодих вчених «Комп’ютерні науки та інженерія» CSE-2011, Львів, 2011, С. 88–89.

В. Яковина, Р. Камінський, В. Смірнов Огляд методів виявлення нечітких дублікатів для автоматизованої перевірки тестових завдань // Матеріали V Міжнародної конференції молодих вчених «Комп’ютерні науки та інженерія» CSE-2011, Львів, 2011, С. 366–367.

В.С. Яковина, В.І. Коцун До питання про визначення діапазонів значень індексу складності програмного засобу // Матеріали II Всеукраїнської науково-практичної конференції «Сучасні інформаційні технології в економіці, менеджменті та освіті» (СІТЕМ-2011), Львів, 2011, С. 140–143.

V. Yakovyna, V.Ketsman Influence of the activation function of RBF neural network on software reliability time series prediction // Proceedings of the VIIIth International Conference on Perspective Technologies and Methods in MEMS Design MEMSTECH’2012, Polyana—Svalyava, Ukraine, 2012, P. 91–92.

V. Yakovyna, D. Fedasyuk, O. Nytrebych On using AIC in software reliability modeling // Proceedings of the VIIIth International Conference on Perspective Technologies and Methods in MEMS Design MEMSTECH’2012, Polyana—Svalyava, Ukraine, 2012, P. 93–94.

В. Яковина, Т. Смірнова Алгоритм перевірки тестових завдань на основі синтаксичного методу // Матеріали І Міжнародної наукової конференції «Інформація, комунікація, суспільство» ІКС-2012, Львів, Україна, 2012, С. 154–155.

Яковина В.С., Сенів М.М., Гаранджа І.Я. Удосконалена процедура визначення кількості дефектів програмного продукту на ранніх етапах тестування // Збірка наукових праць Міжнародної наукової конференції «Інтелектуальні системи прийняття рішень та проблеми обчислювального інтелекту» ISDMCI’2012, Євпаторія, Україна, 2012, С. 238.

V. Yakovyna, O. Nytrebych, D. Fedasyuk Modified High-Order Software Reliability Gokhale Model // Proceedings of the VIIth International Scientific and Technical Conference «Computer Science and Information Technologies» CSIT’2012, Lviv, Ukraine, 2012, P. 194–195.

V. Yakovyna, Iu. Parfeniuk Evaluation Matrix Transition Probabilities between Software Components based on UML Use Case Diagram // Proceedings of the VIIth International Scientific and Technical Conference «Computer Science and Information Technologies» CSIT’2012, Lviv, Ukraine, 2012, P. 196–197.

Яковина В.С., Кецман В.Д. Про ефективність нейронної мережі Елмана для прогнозування відмов програмного забезпечення // Сучасні інформаційні технології в економіці, менеджменті та освіті (СІТЕМ-2012) : Матеріали III-ї Всеукраїнської науково-практичної конференції, Львів, 2012, с. 223–227.

Яковина В.С., Волочій С.Б. Програмний модуль для розробки моделей поведінки складних технічних систем // Сучасні інформаційні технології в економіці, менеджменті та освіті (СІТЕМ-2012) : Матеріали III-ї Всеукраїнської науково-практичної конференції, Львів, 2012, с. 234–237.

V. Yakovyna, I. Parfeniuk Determination of transition probabilities between software components, written in Java, based on monitoring of its execution // Proceedings of the 12th International Conference The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics CADSM 2013, Lviv—Polyana, Ukraine, 2013, P. 382–383.

V. Yakovyna, P. Serdyuk, O. Nytrebych Markov chain dynamic representation model for reliability testing // Proceedings of the 12th International Conference The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics CADSM 2013, Lviv—Polyana, Ukraine, 2013, P. 384–385.

Яковина В.С., Гаранджа І.Я. Вплив кількості вхідних нейронів мережі RBF з функцією активації Гаусса на ефективність прогнозування відмов програмного забезпечення // Збірка наукових праць Міжнародної наукової конференції «Інтелектуальні системи прийняття рішень та проблеми обчислювального інтелекту» ISDMCI’2013, Євпаторія, Україна, 2013, с. 520–522.
V. Yakovyna Influence of RBF neural network input layer parameters on software reliability prediction // Proceedings of the 4th International Conference on Inductive Modelling ICIM’2013, Kyiv, Ukraine, 2013, P. 344–347.